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壓縮空氣懸浮粒子檢測 制藥廠與半導體廠需求區(qū)別
更新時間:2023-02-13   點擊次數(shù):556次

空氣經(jīng)過壓縮后,氣體雜質(zhì)濃度倍數(shù)增加,為了保證產(chǎn)品質(zhì)量,使用清潔壓縮空氣,人們做了多重過濾,那么過濾后氣體是否滿足使用要求,需壓縮空氣懸浮粒子檢測。

塵埃粒子粒子計數(shù)器.png


塵埃粒子的大小

灰塵顆粒根據(jù)其大小分為不同的類別。這可以追溯到1987年美國環(huán)境保護局(EPA)發(fā)布的《顆粒物國家空氣質(zhì)量標準》(簡稱PM標準)。類似地,DIN EN 12341:2014將PMX類別的細粉塵定義為“懸浮在環(huán)境空氣中的顆粒物質(zhì),其通過尺寸選擇性樣品入口,在空氣動力學直徑為xµm(微米)時具有50%的效率截止"。

現(xiàn)在塵埃粒子計數(shù)器除了便攜臺式之分外,更多的被分為0.3微米與0.1微米的差異。

半導體.png

0.3微米的塵埃粒子,主要是檢測0.5微米粒徑,因為這個粒徑粒子是活性粒子集中區(qū),所以制藥廠,食品廠會對這個區(qū)間的顆粒比較重視。

目前激光粒子的檢測的瓶頸為0.1微米,目前可以穩(wěn)定檢測0.1微米的設(shè)備要求較高。

半導體行業(yè)芯片發(fā)展,越來越小,對設(shè)備氣源的塵埃要求也越來越高。我司能有效檢測0.1微米塵埃粒子。

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